你是想知道电器的额定电压还是想知道具体的使用电压，电器的额定电压只能通过说明书查阅了，如使用电压，用万用表电压档，用两个表笔分别其电源的输入测，像你所说，是并联，电器端的电压值也就是电源电压。望采纳！有问题再联系！
液晶电视上屏电压怎么测
微欧计的工作原理是通过电桥原理（国外也称为开尔文原理）四线法测量的，即在电阻两端施加1个恒流，再通过仪器检测其两端的电压，然后通过仪器自动计算后得出电阻值。其优点是测量的数据接近电阻在工作状态下的真实阻值，且消除了测试线本身电阻的影响。而普通万用表测量电阻一般采用比例法，被测电阻与标准电阻串联，测量标准电阻和被测电阻的电压，两者电流相同，根据标准电阻的阻值换算出被测电阻的阻值。实际测量电路也有把标准电阻对应电压作为基准电压，这样，直接测量被测电阻两端的电压即可。所以，在测量微电阻的时候，毫欧表或微欧计更加反应真实电阻值。而万用表的测试线电阻会影响其被测电阻的真实值。比如测量一个1欧姆的电阻，如果万用表的测试线本身就有1欧姆，那么显示的阻值就是2欧姆，你说这个阻值是真实的吗？但毫欧表和微欧表则不存在这个困惑。
开尔文测试法，它是一种电阻抗或电压测量技术，使用单独的载电流和电压检测，相比传统的两个终端（2T）传感能够进行更精确的测量。四线检测的关键优点是分离的电流施加单元和电压测量单元，消除了布线和接触电阻的阻抗。 当我们需要测量电阻R的时候，通过单独的电流源施加取样电流，再通过另外的电压测量单元进行测试。其实大家可以看到，其它电阻Rl的影响依然存在，但是我们是如何减轻或者消除影响的呢？对于电流源而言，Rl电阻和测量电阻是串联的，是没有影响的，我们依然可以保证通过电阻R的电流为电流源施加的电流。对于电压测量单元，通常输入端都是高阻抗输入，达到了兆欧姆甚至更高级别，这个时候，流过Rl的电流很小，则Rl两端的电压差很很小，所以，我们测量的电压就近似等于电阻两端的实际电压。另一个很重要的因素是测试电流，某些电阻在不同测试电流下的阻值是会变化的，万用表达不到这样的要求，而毫欧表和微欧计则可选择相应的恒定测试电流。
高电压试验及测量技术国际国内标准最新动态
一、正常的供电电压
逻辑板的供电电压（俗称上屏电压）常见有+33V、+5V、+12V， 少数机为18V，这一电压来自信号板，与一只保险电阻或贴片保险相连。只有该电压正常，逻辑板才能正常工作。逻辑板供电电压的测试点一般有一保险电阻相连。
二、正确的LVDS信号
检修时一般可通过测量逻辑板LVDS信号输入端的直流电压来大致判断有无LVDS信号，正常值约在1V左右，当然具备示波器的、测试波形就更容易判断信号的有无以及畸变等信息。
三、正确的VGH、VGL、VDD、VDA（或VCC）电压
不同型号的逻辑板的VGH、VGL、VDD、VDA电压值各不相同，其中，VGH电压通常在18V-27V之间，VGL电压通常在负53V-63之间，VDD电压一般在15V左右，VDA或VCC电压一般为33V。 多数逻辑板均标有上述四个电压测试点。VDD、或VCC电压可能有多个值，一般通过测量TFT偏压电路外围电感或稳压块脚电压来判断。
四、正确的液晶屏信号格式选择电压
LVDS信号格式有VESA格式和JEIDA格式两种。一半靠近LVDS插座会有2只选择LVDS格式的电阻，平根据屏的要求来选择其阻值，使格式选择端口的电压与屏对应。一般由0V、33V、5V、和12V几种。
五、正确的幁频选择电压
检修中注意部分液晶屏（如 奇美屏）设有幁频选择端口，以选择液屏的显示频率是50HZ或是60HZ，以适应输入信号的幁频。如果该端口的选择电压错误、屏的显示频率和输入信号的幁频不相同，会出现无显示的故障，请注意。
1 高电压试验技术标准最新动态
行版本IEC60060-1高电压试验技术——第一部分：一般试验要求与GB/T169271均已有10多年了，期间电力设备取得了快速发展，特别是我国，随着近几年800kV和1100kV设备的研制和使用，试验电压已达工频1200kV，雷击冲击2400kV，操作冲击1950kV。对如此高的试验电压，尤其是雷电冲击，原标准中的有些规定已经不适应了，从技术上说本次修订，主要涉及雷电冲击波形参数和过冲允许值的规定和计算方法、大气修正的重复计算。
11重新定义 “叠加过冲或振荡的雷电冲击参数”并新增计算方法
GB/T169271-1997中对于雷电冲击波峰附近存在振荡时（过冲）试验电压的确定在500kHz时作为边界，对频率小于500kHz的过冲幅值直接计入试验电压，而对频率大于500kHz的应作平均曲线，以平均曲线的幅值作为试验电压。这样，会导致测量一致性的两类问题：
1）当振荡频率在500kHz附近时，由于频率测量的偏差，可造成记录曲线最大值与平均曲线最大值的突变，导致高达10%的不确定度；
2）平均曲线的随意性有很大的不确定度。
从1997至1999年由欧洲共同体资助的在5个研究院开展了一项调查，研究叠加在双指数雷电波上的不同频率和幅值的振荡对于5类绝缘击穿强度的影响，主要结论很清楚。叠加振荡的影响取决于频率，过冲幅值频率对绝缘强度的关系是一种渐变而不是急剧的突变过程。
本次修订，将过冲幅值频率与绝缘强度的渐变关系，引入本标准改变以往500kHz作为边界的突变关系，定义明确的基准曲线（双指数波），可以获得很低的测量不确定度。为此专门增加了相关内容：
1）叠加过冲或振荡的标准雷电冲击参数计算；
2）求取试验电压因数的数字滤波器的举例。
12关于雷电冲击过冲允许值
GB/T169271-1997中对雷电冲击波峰处存在振荡时过冲的限制是不能超过试验电压幅值的5%。这对冲击试验电压小于1800kV，一般的试验回路可以满足。根据国内800kV（高海拔）和1100kV设备雷电冲击试验的结果来看，对超过1800kV的雷电冲击试验，由于回路很大，不可能达到。因此，标准中对雷电冲击过冲限值提高到10%，这基本上可以涵盖设备最高电压为550kV设备的雷电冲击试验（试验电压小于2000kV），对于试验电压在2000kV以上的可提高到20%。
13大气修正因数的重复计算
考虑到处于高海拔（高于海平面1000米）实验室，若用于高海拔设备在这些实验室进行试验时需进行实验室实际大气条件与设备安装地点的大气条件的差异，进行修正时由于实验室本身处于高海拔，空气压力低，修正时要用到U50，而U50本身又与不同地点的大气条件有关，因此，按标准求得的Kt数值可能 很小，从而导致Kt的误差很大，需进行重复计算。为此，标准增加了用于从U50计算试验电压的Kt的重复计算程序。
2 高电压、大电流测量技术国际国内标准的最新动态
21高电压测量系统
对于使用在高电压实验室的高压测量系统，IEC60060-2引入了许多新的概念，而且和GB169272是完全相同的，均明确了追溯这些测量系统的必须的要求和程序。它的应用在认可实验室应是强制性的。
IEC60060-2详细给出标准和认可测量系统允许的测量总不确定度。
传统的做法是：由静态刻度因数，阶跃响应或幅频特性确定测量系统的误差。新增与修改内容包括：不仅对高电压量值的溯源提出了具体要求，而且提出了溯源的方法，这就是和标准测量系统进行比对测量。即用两个测量系统同时测量同一电压，同时读取两个系统的读数。以此来确定测量系统的刻度因数和时间参数的不确定度。同时考虑短期稳定性、温度效应、邻近效应，另外，由于现有标准测量系统的额定电压一般小于1000kV，因此对大于1000kV的认可测量系统需进行线性度试验，以最终得到测量系统总不确定度。
22电流测量系统
关于电流测量：IEC原放入60060-1中，这次修订时将大电流试验和测量专门作为一新的标准IEC62475，直流、交流、冲击电流测量全部纳入，其量值的溯源用标准分流器及其测量系统和标准测量系统进行比对，与高电压测量系统比对不同的是，涵盖测量电流的全范围。具体要求是和标准测量系统进行比对测量项目为：线性度、刻度系数、高频电流、干扰、电阻值测量。
23数字记录仪软件要求
随着测量技术的不断发展，国际上二次转换部分如数字记录仪和测量软件的开发，已有许多测量系统具备此组件，为此IEC61083-2目前结合IEC60060-1的修订进行了修订，已接近CDV阶段。我国此前无相应标准，2008年等同采用IEC61083-2制定了GB/T168962高电压冲击试验用数字记录仪——第2部分：软件的要求。
用于对冲击电压和冲击电流试验中记录的测量数据进行处理的软件。对满足GB/T169271和GB/T169272所规定的测量不确定度和程序的软件，标准给出了试验波形和规定限值。
对用于处理冲击试验和校准信号数据的软件，规定评价软件不确定度的试验程序；由试验数据发生器供给测量软件的波形。试验数据发生器（TDG）可产生具有规定参数标准波形的计算机程序，可适用于Windows操作系统，提供实验数据波形进行测量软件校验。
校验软件是为了评估下面的一组或多组冲击波形参数：Up/Ip电压/电流的峰值；T1波前时间；T2半值时间；TC截断时间；Tp峰值时间；β，T过冲，过冲持续时间；A，f振荡的幅值，频率。对选取的波形中的所有标准波形，校验软件的所有参数进行计算。
